 |
Введение в физику конденсированных сред
|
|
|
|
1. Атомные и ионные радиусы. Координационное число и координационный многогранник.
2. Классификация типов связей в кристаллах. Энергия связи. Ионные кристаллы.
3. Энергия решетки ионных кристаллов. Формула Борна-Ланде.
4. Формула Борна-Майера для расчета энергии связи ионного кристалла.
5. Классификация типов связей в кристаллах. Кристаллы с ковалентной связью.
6. Классификация типов связей в кристаллах. Металлические, молекулярные кристаллы и кристаллы с водородными связями.
7. Классификация твердых тел на металлы и диэлектрики по пространственному распределению валентных электронов.
8. Напряжения и деформации в изотропном твердом теле.
9. Упругие деформации и напряжения в кристаллах
10.Закон Гука для анизотропных твердых тел. Модули упругости и упругие постоянные.
11.Упругие волны в кристаллах.
12.Колебания решетки. Фононы. Колебания цепочки одинаковых атомов. I-ая зона Брюллюэна.
13.Колебания линейной цепочки, состоящей из двух различных атомов. Акустические и оптические ветви колебаний
Физика конденсированного состояния вещества
1. Симметрия кристаллов. Матричная запись преобразований симметрии.
2. Трансляционная симметрия кристаллической среды. Пространственная решетка.
3. Сопряженная (обратная) пространственная решетка.
4. Зоны Бриллюэна.
5. Точечная симметрия кристаллической среды. Кристаллографические точечные группы симметрии.
6. Кубические группы.
7. Решетка Бравэ, системы, распределение классов по системам.
8. Пространственные группы симметрии.
9. Плоскости скольжения. Винтовые оси.
10. Примеры пространственных групп.
Современные методы исследования твердых тел
1. Методы выращивания водорастворимых кристаллов.
|
|
|
2. Методы выращивания водонерастворимых кристаллов.
3. Метод рентгеноструктурного анализа.
4. Электронно-микроскопические методы исследования.
Физика реального кристалла
1. Виды точечных дефектов. Термодинамика точечных дефектов. Поведение вакансий при закалке и отжиге.
2. Комплексы точечных дефектов. Миграция точечных дефектов. Источники и стоки точечных дефектов.
3. Краевая дислокация. Скольжение краевой дислокации. Переползание краевой дислокации.
4. Винтовая дислокация. Скольжение винтовой дислокации. Смешанные дислокации и их движение.
5. Контур и вектор Бюргерса. Энергетический критерий дислокационных реакций.
6. Упругие свойства дислокаций. Энергия дислокаций. Взаимодействие параллельных краевых и винтовых дислокаций.
7. Подразделение дислокация на полные и частичные. Характерные полные единичные дислокации в ГПУ, ГЦК и ОЦК решетках.
8. Частичные дислокации Шокли. Растянутые дислокации. Ширина растянутых дислокаций. Частичные дислокации Франка.
9. Взаимодействие дислокаций с точечными дефектами. Атмосферы Коттрелла, Снука и Сузуки.
10. Происхождение дислокаций. Размножение дислокаций при пластической деформации. Источник Франка-Рида.
11. Дисклинации в непрерывной упругой среде и в кристаллической решетке.
12. Границы зерен и субзерен. Малоугловые и высокоугловые границы. Специальные и произвольные границы.
Дифракционный структурный анализ
1. Устройство металлографических микроскопов. Назначение основных линз. Аберрации линз и методы их устранения. Источники света
2. Формирование оптического изображения поверхности шлифа. Основные методы микроскопического исследования: светлопольное, косое, темнопольное освещение; метод поляризованного света.
3. Просвечивающая электронная микроскопия и ее физические основы. Устройство и основные характеристики просвечивающего электронного микроскопа. Методы подготовки образцов для просвечивающих электронных микроскопов.
|
|
|
4. Растровая электронная микроскопия и ее физические основы. Взаимодействие электронного пучка с образцом. Устройство, принципиальная схема и характеристики растрового электронного микроскопа.
5. Типы сканирующих зондовых микроскопов. Принципы работы и основные узлы сканирующих зондовых микроскопов. Методы сканирующей туннельной микроскопии. Изготовление зондов для сканирующих туннельных микроскопов.
6. Принципы работы и основные узлы атомно-силового микроскопа. Контактные и колебательные методики атомно-силовой микроскопии. Принцип работ и особенности магнитно-силовой микроскопии. Двухпроходные методики.
7. Рентгеновское излучение. История открытия, природа и основные свойства. Источники рентгеновского излучения. Устройство рентгеновской трубки. Механизмы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом.
8. Рентгеноструктурный анализ и его физические основы. Уравнения Лауэ и Вульфа-Брэгга. Сравнительная характеристика дифракционных структурных методов: рентгенографии, нейтронографии и электронографии.
9. Характеристика экспериментальных методов рентгеноструктурного анализа. Метод Дебая-Шеррера, метод малоуглового рассеяния. Рентгеновская топография.
10. Характеристика методов рентгенографии. Фазовый анализ. Определение числа, размеров и разориентации кристаллитов. Оценка остаточных напряжений. Анализ твердых растворов.
11. Электронография и ее физические основы. Экспериментальное оборудование. Основные области применения методов электронографии.
12. Нейтронография и ее физические основы. Характеристика экспериментальных методов. Структурная и магнитная нейтронография.
|
|
|
12 |
