 |
Ход интерпретации по палеткам Пылаева следующий.
|
|
|
|
Ход интерпретации по палеткам Пылаева следующий.
1. Определить по двухслойной палетке обычным путем h1; р1; μ 1
2. Выбрать соответствующую палетку совмещая наблюденную кривую с палеточной, определить υ 1; отметка точек пересечения кривой с линиями m2, h2 и Т 2.
3. Снять по бланку кривой значений m2; h2;
4. Определить рз по асимптоте к правой ветви кривой.
5. Вычислить h1= m2- h2.
6. Проверить вычисления h2 по Т2:
Таблица 2. 1
| № п/п | АВ/2, м | MN/2, м | Рк, Ом•м | № п/п | АВ/2, м | MN/2, м | Рк, Ом•м |
| 1, 5 | 0, 5 | 12, 1 | 23, 1 | ||||
| 0, 5 | 17, 1 | 15, 0 | |||||
| 0, 5 | 26, 2 | 11, 8 | |||||
| 0, 5 | 39, 2 | 10, 6 | |||||
| 38, 8 | 10, 4 | ||||||
| 0, 5 | 50, 0 | 10, 4 | |||||
| 50, 8 | 9, 9 | ||||||
| 51, 5 | 10, 4 | ||||||
| 40, 7 | 10, 0 | ||||||
| 40, 2 | 9, 2 | ||||||
| 23, 7 |
1 – крест двухслойной палетки; 2 – крест трехслойной палетки; 3 – интерпретируемая кривая; 4 – кривая двухслойной палетки с μ 1=9; 5 – кривая трехслойной палетки К – 9 – 1; 6 – линия Т2.
Рисунок 20 - Пример интерпретации трехслойной кривой ВЭЗ с
помощью палеток Пылаева.
Контрольные вопросы.
1. В чем заключается сущность метода ВЭЗ?
2. Изложите последовательность обработки и интерпретации трехслойных кривых ВЭЗ?
3. Что называется крестом двухслойной палетки?
4. Поясните понятие крест трехслойной палетки?
5. Что называется палеткой кривых ВЭЗ?
Практическая работа №3.
Количественная интерпретация кривых электропрофилирования.
Цель: Приобретение навыков по определению положения контакта двух сред в методе электропрофилирования.
|
|
|
Порядок выполнения работы
1. Изучить способы определения положения контакта двух сред.
2. Ознакомиться с теоретическими основами.
3. Построить графики кажущегося сопротивления ρ к над наклонными контактами при падении его в сторону с большим и меньшим сопротивлением.
4. Определить положение контакта двух сред.
5. Ответить на контрольные вопросы.
Оформление работы:
После выполнения работы составляется отчет, в котором приводятся:
1. Тема работы
2. Цель работы
3. Порядок выполнения работы
4. Графики КС над контактом разных сред.
5. Технико-экономическое обоснование.
6. Ответы на контрольные вопросы
7. Материалы и оборудование: миллиметровая бумага, карандаш.
Определение положения контакта двух сред.
На рис. 21 приведена кривая, полученная над вертикальным контактом, перекрытым наносами, при помощи симметричной установки AMNB. То, что наблюденная кривая связана с контактом, подтверждается наличием на ней трёх ступеней: первая Ст1 соответствует породам низкого сопротивления (ρ 1), вторая Ст2- зоне контакта, третья Ст3- породам высокого сопротивления (ρ 2). Положение контакта в данном случае определяется как середина участка с резким изменением ρ к (середина участка а - б на рис. 22).
1 – поверхностный слой, 2 – слой высокого сопротивления.
Рисунок 21- Вид кривой ρ к над контактом двух сред при наблюдении симметричной установкой.
Если на графике ρ к более четко выражены пики, то плоскость контакта падает в сторону среды с меньшим сопротивлением (рис. 22, а), если на графике более четко выражены впадины, то в сторону среды с большим сопротивлением (рис. 22, а).
Рисунок 22 - Графики ρ к над наклонным контактом при падении его в сторону среды с меньшим (а) и большим (б) сопротивлением.
При наблюдении над контактом установки КЭП и ДП наблюдается расхождение кривых прямой и обратных установок.
|
|
|
На рис. 22 изображены графики КЭП. Как видно, зона контакта располагается в середине области расхождения кривых (точка К). Направление падения контакта определяется также, как и при наблюдении симметричной установкой.
Более точно местоположение контакта в случае наклонного падения его можно установить по характерным точкам пиков (П) и впадин (В). Если более четко выражены пики, то для определения места контакта надо отложить величину MN/2, от пика обратной установки в сторону пониженного сопротивления, если более четко выражены впадины, то от впадины прямой установки в сторону среды повышенного сопротивления.
|
|
|
