Главная | Обратная связь | Поможем написать вашу работу!

Перечень вопросов для промежуточной аттестации по кристаллоГрафии

График самостоятельной работы студентов

И вид отчетности по СРС

№ недели

СРС, ч.

Контрол. работы, ч.

Зачет

Экзамен

№ п/п	Темы	Литература

	Введение. Пространственная решетка и структура. Распространенность кристаллического вещества в природе и технике.	[1] Гл. 1 С.9-28; [3] С.19-26; [6] Гл. 1 §5.
	Гониометрия и проекции кристаллов. Методы измерения углов кристаллов. Прикладной одно- и двукружный гониометры. Сферические координаты. Решение кристаллографических задач на сетке Вульфа.	[3] Гл. 1 §3; [6] Гл. 2 §2.
	Симметрия кристаллов. Разновидность простых форм (энантиоморфные формы). Двойники и закономерные сростки. Мозаичные кристаллы.	[1] Гл. 2 С.61-119; [3] Гл. 1 §9.
	Внутренняя симметрия кристаллов. Связь между структурой и внешней формой кристаллов. Описание простейших структур кристаллов.	[1] Гл. 4 С.211-237; [3] Гл. 2 §6.
	Рентгенометрия кристаллов. Экспериментальная проверка теории Федорова строения кристаллов. Формула Вульфа-Брегга, обратная решетка и ее связь с кристаллической решеткой. Методы: Лауэ (полихроматический), вращения-колебания, порошка.	[2] т.2,Гл. 4 §1, 2, 5; [3] Гл. 3 §1-4; [5] Гл. 12 §1-5, гл. 13 §1-4; [6] Гл.7 §1-2, гл.8 §1-6.
	Основные понятия кристаллохимии. Число формульных единиц. Поляризация ионов. Зависимость типа структуры от характера химической связи. Правило Паулинга.	[1] Гл. 5 С.306-372; [6] Гл.9 §2, гл.19 §4.
	Идеальные и реальные кристаллы. Условия необходимые для проявления изоморфизма. Структуры с дробным количеством атомов в элементарной ячейке. Дефектные структуры.	[1] Гл. 5 С.372-422; [6] Гл.13 §13.

	Возникновение и рост кристаллов. Влияние физико-химических свойств среды на форму кристаллов. Фигуры травления.	[3] Гл. 6 §4.
	Физическая кристаллография. Двупреломление. Оптическая индикатриса, ее типы и расположение в зависимости от сингоний кристалла. Кристаллооптический анализ. Иммерсионный метод. Понятие об универсальном методе Федорова.	[3] Гл. 9 §3.

КОМПЛЕКСНЫЕ КОНТРОЛЬНЫЕ ЗАДАНИЯ

ПО КРИСТАЛЛОГРАФИИ,

НЕОБХОДИМЫЕ ПРИ ВЫПОЛНЕНИИ ВНЕШНЕЙ ЭКСПЕРТИЗЫ УНИВЕРСИТЕТА И СБОРНИК ЭТАЛОННЫХ ОТВЕТОВ НА НИХ

Задание № 1

Определить элементы симметрии, вид симметрии, символы граней, символы ребер и построить стереограмму по модели кристаллического многогранника:

1) тригональная призма; 2) тригональная пирамида; 3) тригональная бипирамида; 4) тетрагональная призма; 5) тетрагональная пирамида; 6) тетрагональная бипирамида; 7) тетрагональный тетраэдр; 8) гексагональная призма; 9) гексагональная пирамида; 10) гексагональная бипирамида; 11) ромбическая призма; 12) ромбическая пирамида;

13) ромбическая бипирамида; 14) ромбический тетраэдр; 15) куб; 16) октаэдр; 17) тетраэдр; 18) апатит; 19) альбит; 20) пирит; 21) оливин.

Задание № 2

Определить тип элементарной ячейки, сингонию, число формульных единиц, координационное число, координационный многогранник, вид плотнейшей упаковки, тип связи, форму и число пустот, пространственную группу исходя из пространственной решетки для структуры:

1) алмаз С; 2) графит С; 3) вюртцит ZnS; 4) сфалерит ZnS; 5) каменная соль NaCl; 6) a-Fe; 7) g-Fe; 8) CsCl; 9) Cu; 10) флюорит СaF₂; 11) Zn; 12) Mg;

13) куприт Cu₂O; 14) пирит FeS₂; 15) CdI₂; 16) борнитрид BN; 17) рутил TiO₂; 18) перовскит CaTiO₃; 19) халькопирит CuFeS₂; 20) NiAs.

Задание № 1

Задание 1.1

Тригональная призма

Задание 1.2

Тригональная пирамида

Задание 1.3

Тригональная бипирамида

Задание 1.4

Тетрагональная призма

Задание 1.5

Тетрагональная пирамида

Задание 1.6

Тетрагональная бипирамида

Задание 1.7

Тетрагональный тетраэдр

Задание 1.8

Гексагональная призма

Задание 1.9

Гексагональная пирамида

Задание 1.10

Гексагональная бипирамида

Задание 1.11

Ромбическая призма

Задание 1.12

Ромбическая пирамида

Задание 1.13

Ромбическая бипирамида

Задание 1.14

Ромбический тетраэдр

Задание 1.15

Куб

Задание 1.16

Октаэдр

Задание 1.17

Тетраэдр

Задание 1.18

Апатит

Задание 1.19

Альбит

Задание 1.20

Пирит

Задание 1.21

Оливин

Задание № 2

Задание 2.1

Aлмаз С

Задание 2.2

Графит С

Задание 2.3

Вюртцит ZnS

Задание 2.4

Сфалерит ZnS

Задание 2.5

Каменная соль NaCl

Задание 2.6

a-Fe

Задание 2.7

g-Fe

Задание 2.8

CsCl

Задание 2.9

Задание 2.10

Флюорит СaF₂

Задание 2.11

Задание 2.12

Задание 2.13

Куприт Cu₂O

Задание 2.14

Пирит FeS₂

Задание 2.15

CdI₂

Задание 2.16

Борнитрид BN

Задание 2.17

Рутил TiO₂

Задание 2.18

Перовскит CaTiO₃

Задание 2.19

Халькопирит CuFeS₂

Задание 2.20

NiAs

Критерий оценки знания

Оценка «ОТЛИЧНО» выставляется студенту, который:

1) глубоко усвоил программный материал, излагает его на высоком научно-техническом уровне, изучил обязательную и дополнительную литературу, знает основные достижения в области кристаллографии и использует этот материал при ответах;

2) понимает роль эксперимента, умеет делать правильные выводы из сопоставления теории и эксперимента, четко усваивает внутри- и межпредметные связи;

3) владеет современными кристаллографическими методами исследований, применяет вычислительную технику;

4) на дополнительные вопросы дает полные, глубокие ответы. В нетипичной проблемной ситуации проявляет находчивость, понимание проблемы и способность творчески ее решить. В ходе ответа возможны одна-две неточности при освещении второстепенных вопросов, которые студент легко исправляет после замечания экзаменатора.

Оценка «ХОРОШО» выставляется студенту, который:

1) полно раскрыл содержание вопроса в объеме программы, изучил обязательную литературу по предмету;

2) материал излагает четко, грамотно, но не выходя за рамки программы, владеет терминологией и символикой по кристаллографии;

3) устанавливает внутри- и межпредметные связи, освоил основные кристаллографические методы исследований, умеет связать теорию с практикой, решает прикладные задачи с применением вычислительной техники;

4) При изложении материала допускает неточности, не искажающие сути ответа.

Оценка «УДОВЛЕТВОРИТЕЛЬНО» выставляется студенту, который:

1) владеет программным материалом в объеме учебника без достаточно глубокого понимания сущности большинства вопросов, знает основные теоретические положения кристаллографии;

2) при ответе на основные и дополнительные вопросы допускает незначительные ошибки и неточности, нарушения логической последовательности изложения материала, недостаточно аргументирует теоретические положения.

Оценка «НЕУДОВЛЕТВОРИТЕЛЬНО» выставляется студенту, который:

1) обнаружил существенные пробелы в знании программного материала, на вопросы билета дал нечеткие, отрывочные, содержащие глубокие ошибки ответы;

2) не умеет работать с литературой, допустил принципиальные ошибки при, выполнении предусмотренных программой лабораторных работ.

Перечень вопросов для промежуточной аттестации по кристаллоГрафии

1. Характерные свойства кристаллов

2. Закон постоянства углов

3. Методы измерения углов кристаллов. Гониометры.

4. Методы описания кристаллов – кристаллографические проекции

5. Стереограмма кристаллов. Стереографические сетки.

6. Элементы симметрии

7. Сложение элементов симметрии

8. Вывод всех возможных видов симметрии для кристаллических многогранников.

9. Распределение видов симметрии по сингониям.

10. Закон целых чисел

11. Установка кристаллов

12. Символы граней, символы ребер

13. Связь между символами граней и ребер

14. Закон постоянства углов, закон поясов. Развитие граней пояса.

15. Вычисление кристаллов

16. Простые формы кристаллов

17. Распределение простых форм по сингониям.

18. Комбинации простых форм

19. Структура кристаллов. Пространственная решетка

20. Элементы симметрии бесконечных фигур

21. Особенности симметрии пространственных решеток

22. Решетки Бравэ

23. О выводе 230 пространственных групп

24. Основные задачи рентгеноструктурного анализа

25. Условия дифракции рентгеновских лучей. Формула Вульфа-Брегга

26. Обратная решетка и ее связь с кристаллической решеткой

27. Рентгенографические методы: а) метод Лауэ, б) метод вращения, дифрактометрический метод, метод Дебая.

28. Структура металлов и структурный тип Cu, a-Fe, Mg.

29. Структура ионных кристаллов и структурный тип NaCl, CsCl, ZnS (сфалерит, вюрцит)

30. Структура ионных кристаллов и структурные типы соединений вида AX₂, A₂X, (CaF₂, FeS₂, Cu₂O, a-Al₂O₃)

31. Координационное число и координационный многогранник. Число формульных единиц.

32. Атомные и ионные радиусы.

33. Геометрические пределы устойчивости структур

34. Основные понятия кристаллоструктурных связей (ионная, ковалентная, молекулярная, металлическая) в реальных кристаллах.

35. Теория плотнейших шаровых упаковок ионных кристаллов

36. Идеальные и реальные кристаллы (изоформизм, полиформизм).

37.Классификация типов полиформизма по сруктурному признаку

38. Твердые растворы.

39. Дефекты кристаллической структуры (точечные дефекты).

40 Дислокации (краевые, винтовые).

41. Возникновение и рост кристаллов (из растворов, расплавов, паров), рекристаллизация, скорость роста, концентрационные потоки

42. Удельный вес

43 Механические свойства кристаллов (твердость, спайность, упругость).

44.Электрические свойства кристаллов (пьезоэлектрический эффект, пироэлектрический эффект, диэлектрическая проницаемость).

45 Магнитные свойства кристаллов диа-, пара-, ферромагнетики)

46 Тепловые свойства кристаллов

47 Оптические свойства кристаллов.

Учебно-методическое обеспечение дисциплины.

Основная литература

1. Чупрунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фадеев М.А. Кристаллография. М.: Изд. Ф.-м.лит., 2000. – 496 с. (50 экз.)

2. Кристаллография. Лабораторный практикум. Е.В. Чупрунов. Учебное пособие. М.: Изд. Ф.-м.лит., 2005.- 412 с. (10 экз.)

3. Современная кристаллография: В 4 т. / Гл. Ред. Б.К.Вайнштейн. М.: Наука, 1979. Т. 1. 383 с.; Т. 2. 359 с.; Т. 3. 407 с.; Т. 4. 495 с. (4 экз.)

4. Костов И. Кристаллография. М.: Мир, 1965. 516 с. (6 экз.)

5. Шаскольская М.П. Кристаллография. М.: Высшая школа, 1976. 382 с. (35 экз.)

6. Лейтвейн Ф., Зоммер-Кулачевский Ш. Кристаллография. М.: Высшая школа, 1968. (2 экз.)

7. Попов Г.М., Шафрановский И.И. Кристаллография. М.: Высш. шк., 1976.-341с. (3 экз.)

Дополнительная литература

1. Болдырев А.К. Кристаллография. Л.: КУБУЧ, 1930. (1 экз.)

2. Бокий Г.Б. Кристаллохимия. М.: Наука, 1971.-389с. (37 экз.)

3. Пенкаля Т. Очерки кристаллохимии. Л.: Химия, 1974. (4 экз.)

4. Торопов И.А., Булак Л.И. Кристаллография и минералогия. Л.: Литература по строительству, 1972. (4 экз.)

5. Белов Н.В. Очерки по структурной кристаллографии и федоровским группам симметрии. М.: Наука, 1986. (3 экз.)

6. Флинт Е.Е. Начало кристаллографии. М. 1952. (1 экз.)

7. Белов Н.В. Кристаллография и кристаллохимия. М.: Наука, 1986. (2 экз.)

8. Бокий Г.Б., Парай-Кошиц М.А. Практический курс рентгеноструктурного анализа.М.: МГУ, т.1. 1964. (5 экз.)

9. Бюргер М.Д. Рентгеновская кристаллография. М.: Иностранная литература, 1956. (1 экз.)

10. Фридель М. Дислокации. М.: Мир, 1967. (1 экз.)

11. Ормонт Б.Ф. Введение в физическую химию и кристаллохимию полупроводников. М.: Высшая школа, 1968. (1 экз.)

12. Амелинкс О. Методы прямого наблюдения дислокации. М.: Мир, 1968. (1 экз.)

13. Герасимов В.И., Ильина Г.И. Кристаллография металлов и полупроводников. Учебное пособие. Саранск: Изд-во МордГУ, 1991. 105 с. (40 экз.)

14. Герасимов В.И. Кристаллография. Учебное пособие. Саранск: Изд-во МордГУ,1996. 190с. (60 экз.)

При изучении кристаллографии в учебном процессе используются наглядные пособия: простые формы, комбинации простых форм, макеты кристаллических структур, плакаты, макеты плотных упаковок, стереорисунки.

1. Учебно-методическая карта кристаллографии.

Номер недели	Номер темы	Наименование вопросов изучаемых на лекции	Номер лабораторных занятий	Использование наглядных и методических пособий	СРС	Формы контроля
Содержание	Объем часов

		Понятие о кристалле, кристаллографии. Основные свойства кристаллов. Элементарная ячейка		Макеты структур	Пространственная решетка и структура. Распространенность кристаллического вещества в природе и технике
		Закон постоянства углов. кристаллографические проекции, стереографические сетки.		Плакаты, сетки	Решение кристаллографических задач на сетке Вульфа.
		Элементы симметрии. Сложение элементов симметрии.		Макеты
		Вывод видов симметрии. Распределение видов симметрии по сингониям.
		Простые формы. Распределение простых форм по сингониям.		Простые формы.	Разновидности простых форм. Мозаичные кристаллы.
		Закон целых чисел. Установка кристаллов.		Макеты кристаллов.
		Символы граней. Символы ребер. Связь символов граней и ребер.		Плакаты	Закон поясов. Развитие граней пояса. Способ косинусов Вульфа.

		Развитие теории структуры кристаллов. Элементы симметрии кристаллического пространства		Решетки кристаллических структур	Связь между структурой и внешним видом кристаллов
		Вывод пространственных групп			Описание простейших структур кристаллов
		Решетки Бравэ. Число формульных единиц. Атомные и ионные радиусы. Геометрические пределы устойчивости структур		Решетки Бравэ. Плакаты.	Поляризация ионов
		Классификация кристаллоструктурных связей. Структура кристаллов и структурный тип.		Плакаты.	Зависимость типа структуры от характера химических связей. Правила Паулинга.
		Плотнейшие шаровые упаковки. Типы пустот в шаровых плотнейших упаковках. Классификация кристаллических структур.		Модели, плакаты.	Структурные типы ионных соединений вида АХ, АХ₂, А₂Х, А_nX_m.
		Изоморфизм и полиморфизм. Классификация типов полиморфизма по структурному признаку			Условия необходимые для проявления иозморфизма. Дефектные структуры.
		Твердые растворы второго рода. Зависимость физико-химических свойств твердого тела от кристаллической структуры и природы химической связи.			Точечные дефекты, дислокации. Экспериментальная проверка теории Федорова строения кристаллов.
		Образование кристаллов. Выращивание кристаллов из раствора. Концентрационные потоки.			Влияние физико-химических свойств среды на форму кристаллов. Фигуры
		Механические и электрические свойства кристаллов (твердость, спайность, упругость, пьезоэлектрический эффект)		Плакаты	Практическое применение пьезоэлектриков
		Тепловые и оптические свойства кристаллов			Двупреломление. Кристаллооптический анализ. Иннерсионный метод
		Роль кристаллографии в развитии металлургической, химической, полупроводниковой, медицинской промышленности.

Воспользуйтесь поиском по сайту: