 |
Написание классификационных индексов
|
|
|
|
Классификационные индексы и индексы кодирования проставляются в следующей последовательности:
1. Классификационные индексы, представляющие информацию об изобретении, причем тот индекс, который наиболее полно отражает сущность изобретения, проставляется на патентных документах первым.
2. Классификационные индексы, представляющие дополнительную информацию.
3. Индексы кодирования.
Классификационные индексы и индексы кодирования проставляются в табличном виде в одну или несколько колонок и только с одним индексом на каждой строке.
Индикатор текущей версии базового уровня (год) проставляется в круглых скобках после аббревиатуры "МПК", если документ классифицируется, по крайней мер, частично, по базовому уровню. Большинство ведомств классифицируют документ только по одному уровню, т.е. только по расширенному уровню или только по базовому уровню. При классифицировании по расширенному уровню индикатор версии для каждого индекса МПК, указывающий, когда индекс введен или существенно пересмотрен в расширенном уровне (год, месяц), проставляется в круглых скобках после каждого индекса МПК.
При классифицировании по базовому уровню индексы МПК печатаются или изображаются на экране обычным шрифтом (т.е. не курсивом), а при классифицировании по расширенному уровню индексы МПК печатаются или изображаются на экране курсивом.
Индексы информации об изобретении печатаются или изображаются на экране жирным шрифтом, а индексы дополнительной информации печатаются или изображаются на экране обычным шрифтом (т.е. не жирным).
Образцы представления индексов МПК и индикаторов для одного и того же документа при классифицировании по расширенному уровню, по базовому уровню или по обоим уровням.
|
|
|
| а) Классифицирование по расширенному уровню: | ||
| МПК B28B 5/00 (2006.01) B28B 1/29 (2007.04) H05B 3/18 (2008.07) | ||
| Где: | B28B 5/00 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по расширенному уровню (курсив); |
| B28B 1/29 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по расширенному уровню; | |
| H05B 3/18 | представляет дополнительную информацию (обычный шрифт, т.е. нежирный), классифицируемую по расширенному уровню (курсив); | |
| б) Классифицирование по базовому уровню: | ||
| МПК (2006) B28B 5/00 B28B 1/00 H05B 3/10 | ||
| Где: | B28B 5/00 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по базовому уровню (обычный шрифт, т.е. не курсив) |
| B28B 1/00 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по базовому уровню (обычный шрифт, т.е. не курсив) | |
| H05B 3/10 | представляет дополнительную информацию (обычный шрифт, т.е. нежирный), классифицируемую по базовому уровню (обычный шрифт, т.е. не курсив); | |
| в) Классифицирование информации об изобретении по расширенному уровню и дополнительной информации по базовому уровню: | ||
| МПК (2006) B28B 5/00 (2006.01) B28B 1/29 (2007.04) H05B 3/10 | ||
| Где: | B28B 5/00 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по расширенному уровню (курсив) |
| B28B 1/29 | представляет информацию об изобретении (жирный шрифт), классифицируемую по расширенному уровню (курсив) | |
| H05B 3/10 | представляет дополнительную информацию (обычный шрифт, т.е. нежирный), классифицируемую по базовому уровню (обычный шрифт, т.е. не курсивом. |
ПРИМЕР ПОДКЛАССА ДЛЯ СТУДЕНТОВ СПЕЦИАЛИЗАЦИИ «СЕРТИФИКАЦИЯ И СТАНДАРТИЗАЦИЯ»
G01N - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B 01D,B 01J,B 03,B 07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B 01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C 12M,C 12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E 02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F 01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G 01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание или определение свойств конструкций G 01M; измерение или исследование электрических или магнитных свойств материалов G 01R; системы вообще для определения расстояния, скорости или наличия с использованием эффектов распространения, например эффекта Доплера, измерение времени распространения отраженных или переизлученных радиоволн; аналогичные устройства с использованием других волн G 01S; определение чувствительности, зернистости или плотности фотографических материалов G 03C 5/02; испытание составных частей ядерных реакторов G 21C 17/00)
|
|
|
| Примечания: | (1) В этом подклассе используемые термины означают следующее: | ||||||||||||||||||||||||||||||
| - "исследование" - испытание материалов или определение их свойств; | |||||||||||||||||||||||||||||||
| - "материал" - любые твердые, жидкие или газообразные вещества или среды, например атмосфера. | |||||||||||||||||||||||||||||||
| (2) См. также примечание, следующее непосредственно за заголовком класса G 01. | |||||||||||||||||||||||||||||||
| (3) Исследование свойств материалов, специально предназначенных для использования в процессах, отнесенных к подклассу B 23K, классифицируется в рубрике B 23K 31/12. [5] | |||||||||||||||||||||||||||||||
Содержание подкласса:
| |||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 1/00 | Получение и подготовка образцов для исследования (манипулирование материалами при автоматическом анализе 35/00) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 3/00 | Исследование прочностных свойств твердых материалов путем приложения к ним механических усилий (тензометры G 01B; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 5/00 | Анализ материалов путем взвешивания, например взвешивание малых частиц, выделенных из газов или жидкостей (9/00 имеет преимущество) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 7/00 | Анализ материалов путем измерения давления или объема газа или паров | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 9/00 | Определение плотности или удельного веса материалов; анализ материалов путем определения их плотности или удельного веса (устройства для взвешивания G 01G) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 11/00 | Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 13/00 | Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне [1,7] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 15/00 | Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов (идентификация микроорганизмов C 12Q) [4] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 17/00 | Исследование устойчивости материалов к атмосферному или световому воздействию; определение антикоррозионных свойств | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 19/00 | Исследование материалов механическими способами (3/00-17/00 имеют преимущество) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 21/00 | Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей (3/00-19/00 имеют преимущество; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00; оптические элементы измерительных приборов G 02B; анализ изображений путем обработки данных G 06T) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 22/00 | Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (3/00- 17/00,24/00 имеют преимущество) [3] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 23/00 | Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (3/00-17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H 05G) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 24/00 | Исследование или анализ материалов с помощью ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса или других спин-эффектов (устройства или приборы для измерения эффектов магнитного резонанса G 01R 33/20) [3,4,5] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 25/00 | Исследование или анализ материалов с помощью тепловых средств (3/00-23/00 имеют преимущество) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 27/00 | Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств (3/00-25/00 имеют преимущество; измерение переменных электрических или магнитных величин и исследование электрических или магнитных свойств материалов G 01R) | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 29/00 | Исследование или анализ материалов с помощью ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн; визуализация внутреннего строения объектов путем пропускания через них ультразвуковых или звуковых волн через предметы (3/00-27/00 имеют преимущество; измерение или индикация ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн вообще G 01H; системы с использованием эффектов отражения или переизлучения акустических волн, например акустическое изображение G 01S 15/00; получение записей с помощью способов и устройств, аналогичных используемым в фотографии, но с использованием ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн G 03B 42/06) [4] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 30/00 | Исследование или анализ материалов путем разделения на составные части (компоненты) с использованием адсорбции, абсорбции или подобных процессов или с использованием ионного обмена, например хроматография (3/00-29/00 имеют преимущество; разделение для подготовки или получения составных частей B 01D 15/00, B 01D 53/02,B 01D 53/14) [4] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 31/00 | Исследование или анализ небиологических материалов химическими способами, упомянутыми в подгруппах данной группы (определение эффективности или завершенности процессов стерилизации без использования ферментов или микроорганизмов A 61L 2/28; способы измерения или испытания с использованием ферментов или микроорганизмов C 12Q 1/00); приборы, специально предназначенные для осуществления этих способов [4] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 33/00 | Исследование или анализ материалов особыми способами, не отнесенными к группам 1/00-31/00 | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 35/00 | Автоматический анализ, не ограниченный методами или материалами, предусмотренными только одной из групп 1/00-33/00; манипулирование материалами при этом [3] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| G01N 37/00 | Элементы, не предусмотренные другими группами данного подкласса [3] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
