Тепловые режимы работы тиристоров
Лекция 17. Переходные процессы в тиристорах: эффекты du/dt и di/dt. Тепловые режимы работы тиристоров
Рассмотрим переходный процесс включения тиристора на большие токи (свыше 10—50 А) при активной нагрузке. Тиристоры, включаемые на большие анодные токи, имеют значительную площадь структуры. Такой прибор можно рассматривать как состоящий из многих соединенных параллельно приборов (рис. 17.1). В той части структуры, которая расположена ближе к управляющему электроду, напряжение между катодом и управляющим электродом , (17.1) в то время как напряжение на остальных частях по мере удаления от управляющего электрода убывает на величину, равную падению на сопротивлениях базы rБ в радиальном направлении (по оси х), т.е. . (17.2) В результате основная доля (I a1) анодного тока будет протекать вблизи управляющего электрода.
На рис. 17.2 схематически показано распределение тока в приборе большой площади. При подаче управляющего тока электроны инжектируются переходом П З неоднородно, и чем выше радиальное сопротивление базы, тем неравномернее распределен инжектированный ток по площади прибора. Эта неравномерность включения усиливается часто микронеоднородностью структуры тиристора и рядом других дополнительных эффектов. В результате включение тиристора происходит в некоторой области начального включения (ОНВ).
Далее область включения распространяется с относительно малой скоростью по всей площади структуры. Полное включение площади структуры происходит не за счет импульса управления, а за счет диффузии и дрейфа носителей от ОНВ В базовые области в радиальном направлении. Площадь ОНВ S 0 существенно зависит от периметра управляющего электрода и параметров импульса управления. При некотором минимальном токе управления ОНВ представляет собой точку. Дальнейшее увеличение тока управления приводит к расширению ОНВ вдоль периметра управляющего электрода (УЭ), образованию дополнительных проводящих точек у управляющего электрода. При некотором токе управления ОНВ может охватить почти весь периметр УЭ. Типичное значение этого тока управления составляет для большинства отечественных тиристоров 1 - 2 А. Увеличение S 0 достигается за счет роста периметра УЭ. Однако следует отметить, что для структур с большим периметром УЭ не всегда даже при больших I у образуется ОНВ по всему периметру. Это объясняется микронеоднородностью параметров р-n-p-n- структуры по периметру УЭ. Обычно S 0 составляет примерно 0,1—0,5 мм2. Образование ОНВ происходит относительно быстро. Малые размеры ОНВ приводят к ее разогреву из-за большой плотности энергии — это эффект локализации энергии при включении (или эффект di/dt).
В результате переходный процесс включения тиристоров в таких режимах характеризуется изменением уровня инжекции (плотности анодного тока) и температуры структуры в широких пределах. Так, вблизи центрального перехода р-п-р-п- структуры плотность тока в области начального включения может изменяться в диапазоне 1-100 А/см2, а температура от начального уровня может возрастать до температуры, близкой к температуре плавления кремния (~1000°С). Эти изменения влияют на электрофизические параметры р-п-р-п- структуры и, прежде всего, на коэффициенты усиления и транзисторов, составляющих тиристорную структуру. Переходной процесс включения тиристора по аноду (эффект du/dt). При исследовании процесса включения тиристора по аноду было обнаружено явление, получившее название эффекта du/dt. Напряжение переключения U прк, как оказалось, зависит от скорости нарастания напряжения между анодом и катодом: с ростом du/dt напряжение переключения снижается. В большинстве случаев эксплуатации такое снижение U прк под воздействием du/dt, а также включение тиристора по аноду за счет du/dt недопустимо. Анализ переходного процесса включения тиристора по аноду под воздействием эффекта du/di необходим для оценки помехоустойчивости и быстродействия тиристора.
При подаче скачка анодного напряжения Δ U А с фронтом t ф (рис. 17.3) переходы П 1 и П З смещаются в прямом направлении, а переход П 2 - в обратном (рис. 17.4). Электроны (зачерненные кружочки) со стороны слоя п -типа у перехода П 2 начинают перемещаться в направлении анода, оставляя после себя положительные ионы донорной примеси. Подобным же образом дырки (не зачерненные кружочки), двигаясь в направлении катода, оставляют нескомпенсированные ионы акцепторной примеси в слое р -типа вблизи П 2. В результате образуется ОПЗ из доноров и акцепторов. Перемещенный заряд создает избыточное количество дырок и электронов вблизи переходов П З и П 1 соответственно (рис. 17.4). Описанный процесс — это заряд барьерной емкости С центрального (коллекторного) перехода П 2.
Перемещение электронов понижает потенциал слоя n 1 по отношению к р 1, что вызывает инжекцию дырок из эмиттерного слоя р 1 через переход П 1 в базу п 1 для восстановления электронейтральности. Инжектированные дырки диффундируют к коллекторному переходу П 2, где собираемое их количество зависит от избыточного заряда в базе п 1. Таким же образом перемещенные дырки повышают потенциалы области p 2 по отношению к области n 2, вызывая инжекцию электронов переходом П З. Инжектированные электроны диффундируют к П 2 и собираются им в количестве, зависящем от избыточного заряда в базе n2. Электроны, собранные П 2, переходят внутрь п 1 и заставляют П 1 инжектировать дырки для соблюдения закона нейтральности базы; аналогично ведут себя дырки, собираемые П 2, и т. д. Описанный механизм — это процесс самопроизвольного включения тиристора под действием внутренней ПОС, возбуждаемый скачком анодного напряжения. При этом в базы транзисторов,представляющих р-п-р-п- структуру тирисора, поступают импульсы емкостного тока
, (17.3) где - интегральная емкость коллекторного перехода. Таким образом, действие емкостного тока центрального перехода эквивалентно поступлению одинаковых токов управления в обе базы р-п-р-п- структуры тиристора. Отсюда ясно, что основная задача анализа эффекта du/dt сводится к ответу на вопрос: включится ли тиристор под воздействием импульса емкостного тока при заданных Δ U А и t ф (или при заданном dU А /dt). Переходной процесс выключения тиристора. Прежде всего рассмотрим выключение тиристора по аноду, когда между анодом и катодом тиристора подается запирающее напряжение. Обсудим кратко причины специфических временных зависимостей напряжения между анодом и катодом тиристора и анодного тока тиристора, которые качественно представлены на рис. 17.5.
Для начала отметим, что поскольку процесс выключения связан с рекомбинацией избыточных носителей, то время выключения (t выкд) будет существенно зависеть от времени жизни дырок и электронов в р-п-р-п- структуре. В открытом состоянии тиристора все его р-п- переходы находятся в проводящем состоянии - два перехода (П 1 и П 3) проводят вследствие их прямого смещения, а переход П 2 – вследствие электрического пробоя, вызванного управляющим током. Так как почти все напряжение падает на нагрузочном сопротивлении, падение напряжения на самом тиристоре мало. Коэффициенты инжекции эмиттерных переходов П 1, П З, близки к 1, и поэтому неосновные носители заряда будут только в базовых областях структуры. Распределение дырок и электронов в открытом состоянии тиристора до момента начала его закрытия обратным анодным напряжением (t < t 0) показано на рис. 20 жирной линией. При подаче на тиристор запирающей ЭДС (Е обр) в момент t 0 ток через тиристор изменяет свое направление, соответственно происходит инверсия градиентов дырок и электронов в базах вблизи переходов П 1 - П З. Амплитуда обратного тока I обр определяется сопротивлением цепи запирания (коммутации), т.е. I обр= E обр /R.
В интервале времени t 0- t 1 концентрация неосновных носителей у переходов достаточно велика и под воздействием градиента концентрации носителей начинается диффузия носителей через переходы: обратный ток через переход П 1 будет чисто дырочным (IП 1 = Ip 1), ток через П 3— чисто электронным (IП 3 = In 3), а ток через П 2 будет состоять из электронной и дырочной составляющих (IП 2= Ip 2+ In 2). Исчезновение избыточного заряда электронов Qn в р- базе происходит за счет их ухода с током In 3 и рекомбинации. Так как Qn << Qp, то р- база быстрее теряет заряд избыточных носителей, чем n-база. В момент t 1 избыточная концентрация электронов у перехода П З уменьшается до нуля, формируется ОПЗ, а переход П З смещается в обратном направлении. В типовой структуре тиристора (см. рис. 6 a) концентрация примесей по обе стороны перехода П З достаточно высокая, поэтому переход П З пробивается уже при напряжениях в несколько вольт. Обратный ток через структуру уменьшается: , (17.4) где U проб - напряжение пробоя перехода П З. В момент t 2 избыточная концентрация дырок у перехода П 1 также уменьшается до нуля, вблизи перехода начинается образование ОПЗ, практически все обратное напряжение прикладывается к этому переходу и обратный ток уменьшается до значения обратного тока утечки. Заряд избыточных дырок Qp в n- базе к моменту t 2 изменяется незначительно. На самом деле убыль этого заряда за счет ухода через переход П 1 и рекомбинацию восполняется инжекцией дырок через прямосмещенный переход П 2. Так как р- база легирована у тиристоров много больше, чем n-база, то коэффициент инжекции этого перехода также равен 1, т.е. In 2 = 0 и Ip l= Ip 2; значит, сколько дырок уходит через П 1, столько же их входит через П 2 и заряд Qp за счет обратного тока практически не уменьшается. Поэтому время выключения тиристора t выкл обычно много больше времени восстановления обратной запирающей способности t вос.обр. Значение t выкл определяется в основном длительностью восстановления прямой запирающей способности t вос.пр, т.е. моментом t 4 когда избыточный заряд в n- базе упадет до некоторого малого значения Qk, и тиристор при подаче прямого напряжения не включается. Таким образом, время выключения тиристора t выкл ≈ t вос.пр, т.е. длительность процесса выключения определяется рекомбинацией избыточных носителей Qp в n- базе тиристора. С этих позиций процесс выключения тиристора можно считать эквивалентным запиранию насыщенного транзистора с толщиной базы ω Б = ωn при токе базы, равном нулю, и коэффициентом инжекции эмиттера, равном единице.
Заряд избыточных дырок в n- базе определяется равенством , (17.5) где V — объем базы. Заряд дырок убывает после подачи обратной ЭДС за счет рекомбинации свободных носителей согласно равенству , (17.6) где τ 1 — время жизни носителей в базе. Из (17.6) находим, что , (17.7) где QP (0) —начальный заряд дырок и базе (в момент t 0), В момент восстановления прямой запирающей способности тиристора заряд в базе его транзисторной модели уменьшается до некоторого значения QК, т. е. . (17.8) Начальный заряд Q0(0) пропорционален прямому току через тиристор: Qp (0) = k × I А. (17.9) Конечный заряд QК при медленном нарастании прямого напряжения, прикладываемого к аноду тиристора в конце процесса выключения, определяется критическим зарядом, необходимым для включения тиристора: . (17.10) Если скорость нарастания прямого напряжения велика, то необходимо учесть дополнительный заряд, поступающий в базу тиристора через емкость центрального перехода С и облегчающий включение тиристора. В этом случае выражение для конечного заряда (17.11) подставляют в формулу для оценки времени выключения и получают равенство следующего вида: . (17.12) Основной особенностью рассмотренного процесса выключения, характерного для тиристоров средней мощности, является следующее. В базах тиристора к моменту начала выключения достигаются разные уровни инжекции - высокий в широкой n- базе и низкий в узкой р- базе, при этом обратный ток, а значит, и обратное напряжение и его форма не влияют на время восстановления. При выключении мощных тиристоров необходимо учитывать зависимость времени выключения от величины I обр. Однако количественный учет этой зависимости достаточно сложен. Ход ее зависит как от внутренних электрофизических параметров структуры, так и от внешних. К внутренним параметрам можно отнести время жизни и коэффициент умножения носителей в области пробоя. Внешними параметрами являются сопротивление цепи коммутации, величина запирающего напряжения и т.п. Практически при запирании тиристоров достаточно большим обратным током I обр ≈ I А можно считать, что его влияние сводится к снижению постоянной времени жизни неосновных носителей в базе, т. е. снижению τ1. Тогда время выключения , (17.13) где по сравнению с (17.12) изменилась только постоянная времени (τ2 < τ1). При расчетах по (17.12) и (17.13) можно полагать, что Qp (0) = Qp (t 0), т.е. можно считать, что прямой ток спадает к нулю мгновенно. В противном случае, когда прямой ток спадает к нулю за конечное время t сп, расчет времени выключения следует производить с учетом рекомбинации зарядов в базах тиристора за время спада: . (17.14) Второе слагаемое в этом выражении дает зависимость времени выключения от длительности спада прямого тока.
Воспользуйтесь поиском по сайту: ©2015 - 2024 megalektsii.ru Все авторские права принадлежат авторам лекционных материалов. Обратная связь с нами...
|