4. Факторы, влияющие на формирование кожных узоров.
4. Факторы, влияющие на формирование кожных узоров. При исследовании морфогенеза гребневой кожи нельзя не учитывать влияния факторов билатеральной, лучевой, а также флуктуирующей изменчивости. Билатеральная асимметрия в распределении узоров такова: завитки на пальцах, узоры на гипотенаре и 3-й межпальцевой подушечке, поперечно направленные ладонные линии чаще встречаются на правой руке. Петли на пальцах, узоры на тенаре и 4-й межпальцевой подушечке, косо расположенные ладонные линии и карпальный трирадиус - на левой руке. Рост кисти считают одним из важнейших факторов морфогенеза гребневого рельефа. Зафиксированы корреляции кожных узоров с размерами пальцев. Тип узора связан с шириной подушечки дистальной фаланги пальца плода: чем уже подушечка, тем более сложный узор на ней развивается. Для реализации генетической программы развития гребневого рельефа необходимо поддержание определенного гормонального фона, поскольку именно эндокринная система в пренатальном периоде играет большую роль в дифференцировке и росте тканей плода. Вероятно, эндокринный статус матери и плода, зависящий от наследственных и от средовых влияний, воздействует на формирование дерматоглифического рисунка. В возрасте девяти недель у плода начинают функционировать половые железы, гормоны которых могут влиять на митотическую активность герментативного слоя эпидермиса. Возможно воздействие плацентарного гормона роста. Средовые влияния, способные существенно изменить строение кожных узоров, действуют на плод в период образования узоров или незадолго до него. Это могут быть инфекционные заболевания, например, внутриутробная краснуха, загрязненный воздух, радиационное воздействие и проч.
5. Топография волярной поверхности кисти: сгибательные складки, подушечки.
6. Топография волярной поверхности стопы. Дерматоглифика стопы.
Распределение узоров на подошвенных подушечках отличается от ладонных. На подошвах истинные узоры наиболее часто встречаются на тенаре/I, или халлюкальной подушечке (90% и выше), из них более 50% дистальных петель, 25—35% завитков, около 10% тибиальных и менее 1% фибулярных петель. Особенно следует отметить очень высокую частоту завитков, причем, как правило, несколько чаще они встречаются на левых подошвах, в то время как дистальные петли — на правых. Из интердигитальных подушечек истинными узорами наиболее часто занята III подушечка, где дистальные петли отмечаются в 40—45% и чаще, проксимальные— менее чем в 10%, а завитки — в 8— 11%. Дистальные петли и завитки более часть на правых подошвах. На II межпальцевой подушечке узор встречается в 30—З5 а на IV — в 15—20%. В отличие от других подошвенных по душечек, на II интердигитальной петли чаще открыты проксимально, чем дистально. На II и особенно на IV подушечках завитки редки. На гипотенаре дистальные петли встречаются в 30—35% причем чаще на левых подошвах (в отличие от рук). Проксимальные петли отмечаются довольно редко (4—7%). В области проксимального участка тенара изредка обнаруживаются петли, открытые фибулярно или тибиально. В пяточной области узор встречается исключительно редко. Пальцевые трирадиусы и главные линии на подошвах часто не пропечатываются и поэтому материал по ним весьма скудный. Дуги чаще всего встречаются на V и IV пальцах ног, а на руках — на II и III пальцах. Следовательно, и пальцевая формула для пальцев ног в отношении дуг иная — V > IV > II > I > III. Тибиальные петли наиболее часты на I пальце ног, радиальные же петли — на II пальце рук Для фибулярных петель ног пальцевая формула имеет вид I > IV > II > V > III, а для ульнарных петель руки —V > III > > I > IV > II Завитков на апикальных подушечках ног мало и они чаще отмечаются на III пальце вместо I и IV пальцев рук, а завитковая формула — III > II > IV > I > V. На V пальце ног завитки встречаются редко У большинства исследованных популяций фибулярные петли преобладают на всех пальцах правых ног, а дуги — на левых.
7. Билатеральная, половая и расовая изменчивость признаков плантарной дерматоглифики. Распределение узоров на подошвенных подушечках отличается от ладонных. На подошвах истинные узоры наиболее часто встречаются на тенаре/I, или халлюкальной подушечке (90% и выше), из них более 50% дистальных петель, 25—35% завитков, около 10% тибиальных и менее 1% фибулярных петель. Особенно следует отметить очень высокую частоту завитков, причем, как правило, несколько чаще они встречаются на левых подошвах, в то время как дистальные петли — на правых. Из интердигитальных подушечек истинными узорами наиболее часто занята III подушечка, где дистальные петли отмечаются в 40—45% и чаще, проксимальные— менее чем в 10%, а завитки — в 8— 11%. Дистальные петли и завитки более часты на правых подошвах. На II межпальцевой подушечке узор встречается в 30—З5 а на IV — в 15—20%. В отличие от других подошвенных подушечек, на II интердигитальной подушечке петли чаще открыты проксимально, чем дистально. На II и особенно на IV подушечках завитки редки. На гипотенаре дистальные петли встречаются в 30—35% причем чаще на левых подошвах (в отличие от рук). Проксимальные петли отмечаются довольно редко. В области проксимального участка тенара изредка обнаруживаются петли, открытые фибулярно или тибиально. В пяточной области узор встречается исключительно редко. Половые различия в подошвенных узорах из-за малочисленности материала трудно проследить. Анализы узорных типов на различных подушечках распре делена у мужчин и женщин одинаково. Половые различия в частоте апикальных узоров ног трудно проследить вследствие малочисленности материала. Распределение узоров по пальцам и билатеральные вариации у мужчин и женщин одинаковы, хотя общий процент узорных типов немного отличается. Так, завитков, фибулярных и тибиальных петель, а также дуг у мужчин соответственно — 19, 71; 61, 61, 1, 73 и 16, 94%(, а у женщин — 22, 24; 57, 38; 2, 07 и 18, 31%. Данных по симметрии подошвенных узоров не имеется. Билатеральные различия на подошвах и пальцах ног выражены несколько слабее, чем на ладонях.
Воспользуйтесь поиском по сайту: ©2015 - 2024 megalektsii.ru Все авторские права принадлежат авторам лекционных материалов. Обратная связь с нами...
|