Главная | Обратная связь | Поможем написать вашу работу!
МегаЛекции

Фонд оценочных средств для проведения промежуточной аттестации обучающихся по дисциплине




 

 

1) Семестр и вид промежуточного контроля (зачет, диф.зачет, КП (КР), экзамен).

 

2) Перечень компетенций с указанием этапов их формирования в процессе освоения ООП.

 

Таблица 4.1 – Матрица формирования компетенций

 

Занятие Компетенции и шифры планируемых результатов освоения дисциплины
ПК-5 ПК-6 ПК-9
       
Л1 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3 З(ПК-9) –II.1
Л2 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3 З(ПК-9) –II.1
Л3 З(ПК-5)-I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л4 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л5 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л6 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3 З(ПК-9) –II.1
Л7 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л8 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л9 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3 З(ПК-9) –II.1
Л10 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л11 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3 З(ПК-9) –II.1
Л12 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л13 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л14 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л15 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л16 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
Л17 З(ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
ЛР1 В (ПК-5) -I.1    
ЛР2 В (ПК-5) -I.1    
ЛР3 У(ПК-5) -I.1    
ЛР4 У(ПК-5) -I.1    
ЛР5 В (ПК-5) -I.1    
ЛР6 В (ПК-5) -I.1    
ЛР7 В (ПК-5) -I.1    
ЛР8 В (ПК-5) -I.1    
ЛР9 У(ПК-5) -I.1    
ЛР10     З(ПК-9) –II.1
ЛР11     З(ПК-9) –II.1
ЛР12     З(ПК-9) –II.1
ЛР13     З(ПК-9) –II.1
ЛР14     З(ПК-9) –II.1
ЛР15     З(ПК-9) –II.1
ЛР16   У(ПК-6) -I.3  
ЛР17   В (ПК-6) -I.3  
ПР1   З(ПК-6) -I.3  
ПР2 В (ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
ПР3   З(ПК-6) -I.3  
ПР4   З(ПК-6) -I.3  
ПР5   З(ПК-6) -I.3  
ПР6 В (ПК-5) -I.1 З(ПК-6) -I.3  
ПР7   З(ПК-6) -I.3  
ПР8   З(ПК-6) -I.3  
Курсовой проект В (ПК-5) -I.1 У(ПК-6) -I.3 У(ПК-9) –II.1

 

 

3) Описание показателей и критериев оценивания компетенций на различных этапах их формирования, описание шкал оценивания

4) Методические материалы, определяющие процедуру оценивания знаний, умений, навыков и (или) опыта деятельности, характеризующих этапы формирования компетенций в процессе освоения дисциплины.

 

Таблица 4.2 – Паспорт фонда оценочных средств по дисциплине (для накопительной промежуточной аттестации)

 

№ темы Контролируемые разделы дисциплины Код контролируемой компетенции (или её части) Наименование оценочного средства
Т1 Л1 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1 Опрос
Л2 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1 Опрос
Т2 Л3 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3-I.3 Опрос
Л4 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л5 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л6 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1 Опрос
Л7 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л8 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
ЛР3 У(ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР14 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
ЛР17 В (ПК-6) -I.3 Защита лр.
ПР1 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
ПР2 В (ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
ПР7 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
Т3 Л9 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1 Опрос
Л10 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
ЛР1 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР2 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР9 У(ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР11 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
ЛР13 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
ЛР15 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
ЛР16 У(ПК-6) -I.3 Защита лр.
ПР3 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
ПР5 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
ПР8 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
Т4 Л11 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1 Опрос
Л12 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
ЛР4 У(ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР8 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР10 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
ПР4 З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
ПР6 В (ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Защита пр.
Т5 Л13 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л14 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
ЛР5 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР7 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.
ЛР12 З(ПК-9) –II.1 Защита лр.
Т6 Л15 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л16 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
Л17 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3 Опрос
ЛР6 В (ПК-5) -I.1 Защита лр.

 

 

Таблица 4.3 – Паспорт фонда оценочных средств по дисциплине (для экзамена)

 

№ п/п Контролируемые разделы дисциплины (результаты по разделам) Код контролируемой компетенции (или её части) Наименование оценочного средства
1. Т1 З(ПК-5)-I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1, экзамен
2. Т2 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1, У(ПК-5) -I.1, В (ПК-6) -I.3, В (ПК-5) -I.1
3. Т3 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1, В(ПК-5)-I.1, У(ПК-5) -I.1, У(ПК-6) -I.3
4. Т4 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, З(ПК-9) –II.1, У(ПК-5) -I.1, В (ПК-5) -I.1
5. Т5 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, В (ПК-5) -I.1, З(ПК-9) –II.1
6. Т6 З(ПК-5) -I.1, З(ПК-6) -I.3, В (ПК-5) -I.1

 


Таблица 4.4 – Таблица соответствия результатов контроля знаний по разным шкалам и критерии оценивания

Сумма баллов по 100-балльной шкале ОценкаECTS Критерии оценивания Уровень компетентности Оценка по национальной шкале
для экзамена, КП (КР), практики для зачета
90 – 100 А «Отлично» - выполнены все требования-компетенции, а именно: теоретическое содержание курса освоено полностью, необходимые практические навыки работы с освоенным материалом сформированы, все предусмотренные программой обучения учебные задания выполнены качественно и оценено высоким, близким к максимальному числом баллов. Высокий (творческий) отлично     зачтено
82-89 В «Очень хорошо» - теоретическое содержание курса освоено полностью, необходимые практические навыки работы с освоенным материалом в основном сформированы, выполнены все предусмотренные программой обучения учебные задания, качество выполнения большинства из них оценено числом баллов, близким к максимальному Достаточный хорошо
74-81 С «Хорошо» - теоретическое содержание курса освоено полностью, некоторые практические навыки работы с освоенным материалом сформированы недостаточно, все предусмотренные программой обучения учебные задания выполнены, качество выполнения ни одного из них не оценено минимальным числом баллов, некоторые виды заданий выполнены с ошибками
64-73 D «Удовлетворительно» - теоретическое содержание курса освоено частично, но пробелы не носят существенного характера, необходимые практические навыки работы с освоенным материалом в основном сформированы, большинство предусмотренных программой обучения учебных заданий выполнено, некоторые из выполненных заданий, содержат ошибки Средний удовлетворительно
60-63 Е «Достаточно (посредственно)» - теоретическое содержание курса освоено частично, некоторые практические навыки работы не сформированы, многие предусмотренные программой обучения учебные задания не выполнены, либо качество выполнения некоторых из них оценено числом баллов, близким к минимальному
35-59 FX «Условно неудовлетворительно» - теоретическое содержание курса освоено частично, необходимые практические навыки работы не сформированы, большинство предусмотренных программой обучения учебных заданий не выполнено, либо качество их выполнения оценено числом баллов, близким к минимальному; при дополнительной самостоятельной работе над материалом курса возможно повышение качества выполнения учебных заданий Низкий не удовлетворительно не зачтено
1-34 F «Безусловно неудовлетворительно» - теоретическое содержание курса не освоено, необходимые практические навыки работы не сформированы, все выполненные учебные задания содержат грубые ошибки, дополнительная самостоятельная работа над материалом курса не приведет к какому-либо значимому повышению качества выполнения учебных заданий

 

 

5) Типовые контрольные задания, вопросы к зачету или экзамену и иные материалы, необходимые для оценки знаний, умений, навыков и (или) опыта деятельности, характеризующих этапы формирования компетенций в процессе освоения дисциплины

 

Тестовые задания к контрольной работе по дисциплине «АИС»

1. Какие средства предназначены для контроля деталей в процессе обработки?

1) Контрольно-сортировочные автоматы

2) Автооператоры

3) Приборы активного контроля

4) Подналадочные системы

2. Какие средства предназначены для контроля деталей и организации селективной сборки?

1) Контрольно-сортировочные автоматы

2) Автооператоры

3) Приборы активного контроля

4) Подналадочные системы

3. Какие средства контроля предназначены для контроля деталей на бесцентрошлифовальных станках?

1) Контрольно-сортировочные автоматы

2) Автооператоры

3) Приборы активного контроля

4) Подналадочные системы

4. Какая из команд не относится к управляющим командам приборов активного контроля?

1) Переход от чернового к чистовому шлифованию

2) Подналадка

3) Конец обработки

4) Выхаживание

5. Какая из команд не относится к управляющим командам приборов активного контроля?

1) Переход от чернового к чистовому шлифованию

2) Конец обработки

3) Сортировка

4) Выхаживание

6. Какая из команд относится к управляющим командам приборов активного контроля?

1) Выхаживание

2) Подналадка

3) Сортировка

4) Сброс

7. Какая из технологических погрешностей не компенсируется ПАК?

1) Износ режущего инструмента

2) Температурные деформации обрабатываемой детали

3) Силовые деформации узлов станка

4) Тепловые деформации узлов станка

8. К какому виду относится погрешность обработки, вызванная износом режущего инструмента.

1) Функциональные

2) Случайные

3) Периодические

4) Постоянные

9. Какой из узлов не входит в состав прибора активного контроля

1) Измерительное устройство

2) Подводящее устройство

3) Сортировочное устройство

4) Отсчетно-командное устройство

10. Что такое выхаживание?

1) Вид полирования

2) Обработка на токарном станке

3) Обработка без поперечной подачи режущего инструмента

4) Черновая обработка при шлифовании

11. Какие из схем измерительных устройств ПАК применяются при обработке деталей большого диаметра?

1) Типа «наездник»

2) Двухконтактные

3) Пневматические

4) Индуктивные

12. Каким достоинством обладает одноконтактная схема измерения ПАК?

1) Высокая точность измерения

2) Широкий диапазон измерения

3) Простота конструкции

4) Возможность применения СОЖ

13. С какой целью в измерительных скобах Пак используется арретир?

1) Для повышения точности измерения

2) Для безударного ввода измерительной скобы на позицию измерения

3) Для компенсации температурных погрешностей

4) Для повышения производительности контроля

14. Какая из схем скоб ПАК наружного диаметра может реализовать косвенный метод измерения?

1) Одноконтактная

2) Трехконтактная

3) Двухконтактная

4) Четырехконтактная

15. Что такое сопряженное шлифование?

1) Обработка вала под размер втулки

2) Обработка двух деталей одновременно

3) Шлифование двух шеек вала одновременно

4) Доводка деталей в процессе обработки

16. Какой параметра контролируется при внутреннем шлифовании и реализации косвенного метода измерения?

1) Радиус детали

2) Диаметр детали

3) Положение кромки шлифовального круга

4) Диаметр шлифовального круга

17. С какой целью в ПАК,с контролем режущей кромки круга, к внутришлифовальному станку используется управляющий клапан?

1) Для управления процессом обработки

2) Для повышения точности измерения

3) Для уменьшения времени срабатывания пневматического преобразователя

4) Для расширения диапазона измерения

18. С какой целью в ПАК к плоскошлифовальным станкам используется управляющее сопло?

1) Для управления процессом обработки

2) Для компенсации износа круга

3) Для защиты измерительного устройства от СОЖ

4) Управления процессом измерения

19. Для какого типа станков используются подналадчики?

1) Круглошлифовальных

2) Внутришлифовальных

3) Бесцентрошлифовальных

4) Плоскошлифовальных

20. Какие погрешности обработки компенсируются при применении подналадчиков?

1) Функциональные

2) Периодические

3) Случайные

4) Рабочего эталона

21. Какой из способов формирования управляющих команд обеспечивает наибольшую точность?

1) Подналадка по одной детали

2) Подналадка по среднему арифметическому

3) Подналадка по времени

4) Подналадка по повторным импульсам

22. Как осуществляется базирование детали при бесцентровом шлифовании?

1) В призме

2) На плоскости

3) На ноже

4) В центрах

23. Каково назначение контрольно сортировочных автоматов?

1) Для повышения точности обработки

2) Для повышения точности измерения

3) Для организации селективной сборки

4) Для подналадки измерительных устройств

24. Какой из циклов обработки КСА обеспечивает наибольшую производительность?

1) Последовательный

2) Комбинированный

3) Параллельный

4) Смешанный

25. Какой из типов преобразователей обеспечивает наибольшую производительность и число групп сортировки?

1) Пневматический

2) Электроконтактный

3) Фотоэлектрический

4) Индуктивный

26. Для чего предназначены самонастраивающиеся измерительные системы?

1) Для компенсации погрешностей обработки

2) Для компенсации случайных погрешностей измерения

3) Для компенсации смещения уровня настройки преобразователей

4) Для компенсации динамических погрешностей измерения

27. Какой из методов измерения не используется в КИМ?

1) Нулевой метод

2) Дифференциальный

3) Комбинированный

4) Противопоставления

28. Какая из систем координат не относится к КИМ?

1) Абсолютная система координат КИМ

2) Относительная система координат КИМ

3) Смешанная система координат КИМ

4) Система координат детали

29. Какой тип компоновок КИМ используется наиболее часто?

1) Портальная

2) Мостовая

3) Консольная

4) Стоечная

30. Какие типы направляющих КИМ обеспечивают наибольшую точность и несущую способность?

1) Шариковые

2) Роликовые

3) Аэростатические

4) Трения-скольжения

 

Вопросы к экзамену.

1. Классификация автоматических измерительных систем.

2. Виды технологических погрешностей.

3. Структура приборов активного контроля

4. Виды управляющих команд.

5. Схемы измерительных устройств ПАК (3х, 2х, одноконтактные).

6. Конструкция индикаторной и индуктивной навесных скоб.

7. Принципиальная схема системы станок – инструмент – деталь – ПАК.

8. Прибор фирмы «Etamic».

9. Индуктивный прибор фирмы «Универ» для контроля деталей с прерывистыми поверхностями.

10. Область применения сопряжённого шлифования.

11. Схемы включения сопел при сопряжённом шлифовании.

12. Одноконтактный ПАК к круглошлифовальному станку 3А151.

13. Двухконтактные схемы ПАК к внутришлифовальным станкам.

14. Косвенный метод контроля при внутреннем шлифовании.

15. Оценка диаметра отверстия по положению режущей кромки круга.

16. Подналадчик к бесцентрошлифовальному станку ОКБ-1171В.

17. Подналадчик ОКБ-2020.

18. Схема комбинированного контроля при внутреннем шлифовании.

19. Прибор ОКБ-6к78 к внутришлифовальному станку.

20. Подналадочные измерительные системы. Схема погрешности.

21. Методы формирования команд на подналадку.

22. Определение погрешности обработки с использованием подналадчика.

23. Определение границы подналадки.

24. Измерительное устройство подналадчика для контроля вала.

25. ПАК к плоскошлифовальному станку ОКБ-КУ4.

26. ПАК к плоскошлифовальному станку БВ-4066.

27. Область применения КСА. Структура КСА.

28. Принципиальная кинематическая схема КСА.

29. Определение цикла работы КСА.

30. Циклограмма. Назначение, структура.

31. Загрузочные устройства магазинного типа.

32. Классификация загрузочных устройств.

33. Схемы транспортирующих устройств КСА.

34. Бункерные загрузочные устройства.

35. Самоподнастраивающиеся измерительные системы. Назначение, область применения.

36. Методы коррекции уровня настройки измерительных систем.

37. Схема самоподнастраивающейся системы с переменным уровнем настройки.

38. Схема самоподнастраивающейся системы с постоянным уровнем настройки.

39. Схема самоподнастраивающейся системы с дополнительной измерительной позицией.

40. Схема поднастройки измерительной системы с настройкой по возмущающему воздействию.

41. Самоподнастраивающаяся система для 3-х контактных и 2-х контактных скоб.

42. Самоподнастраивающаяся система к плоскошлифовальному станку.

43. Самоподнастраивающаяся система с настройкой по возмущениям.

 


Поделиться:





Воспользуйтесь поиском по сайту:



©2015 - 2024 megalektsii.ru Все авторские права принадлежат авторам лекционных материалов. Обратная связь с нами...