Нарушение структуры материалов при ионной бомбардировке
Внедрение ионов в материалы сопровождается изменением структуры и свойств в результате образования многочисленных дефектов. При ионном распылении число возникающих дефектов столь велико, что может происходить полное видоизменение свойств поверхности обрабатываемого материала. Уже сами внедренные ионы представляют собой дефекты структуры материала. Однако большая часть дефектов возникает в результате смещения атомов материала. Простейшими дефектами структуры, вызванными смещениями, являются точечные дефекты материала типа Френкеля. Эти дефекты характеризуются возникновением пары: атом в междоузлии и вакансия. Теория радиационных нарушений в материалах [14] исходит из предположения, что существует пороговая энергия Еd, которую необходимо передать атому, чтобы он перешел в междоузлие и возник дефект. Эта энергия должна превышать энергию связи атома в кристаллической решетке или молекуле Еd. Типичная величина Еd, оцениваемая как энергия, необходимая для смещения атома внутри материала из своего равновесного состояния, имеет порядок (2,4—4,8) · 1018 Дж (15—30 эВ). Число и распределение возникающих при ионной обработке дефектов смещения определяется ядерным торможением ионов, т. е. параметром ядерной тормозной способности Sn(E) и дозой бомбардирующих ионов Ns. Максимум концентрации дефектов лежит на расстоянии кр от поверхности и, в целом, распределение дефектов повторяет распределение внедренных ионов. Число возникающих дефектов может быть оценено выражением: , (2.1) Из-за возникновения вторичных дефектов глубина нарушенного слоя материала может быть значительно большей, чем глубина внедрения ионов. Если энергия смещенного атома Еа превышает Ed, то могут возникать вторичные дефекты, так как смещенный атом способен вызвать смещение другого. Вероятность возникновения вторичных дефектов при столкновении увеличивается от нуля до единицы при энергии смещенного атома Ea = 2Ed, и полное их число будет равно v(E)=Ea/2Ed.
Помимо прямого выбивания атомов материала из равновесных положений бомбардирующими ионами происходит распространение дефектной области в цепочках последовательной передачи энергии и импульса между атомами. Диаметр зоны нарушений, создаваемой одним ионом, имеет значение порядка А нм, где параметр А равен численному значению энергии иона, выраженной в килоэлектрон-вольтах. Можно ожидать, что при энергиях несколько килоэлектрон-вольт и дозах бомбардирующих ионов порядка 1014—1016 ион/см2 будет происходить перекрытие дефектных зон, слияние точечных дефектов в сплошную дефектную зону. Монокристаллическая структура превращается в аморфную. Критическая доза, при которой происходит аморфизация поверхностных слоев обрабатываемого материала, зависит от энергии и массы ионов, температуры, вида образующихся дефектов, коэффициента распыления материала и других параметров. С увеличением энергии повышается доза ионов, необходимая для полной аморфизации поверхностных слоев материала. Это связано с увеличением глубины проникновения ионов в материал и уменьшением доли ядерного торможения. Увеличение температуры обрабатываемого материала повышает критическую дозу аморфизации [10,15]. Часть дефектов восстанавливается, т. е. восстанавливается кристаллическое совершенство структуры. Материал, в котором существуют дефекты, представляет собой неустойчивую систему, которая с течением времени при температурах, отличных от нуля, переходит в устойчивое состояние. Число дефектов уменьшается в результате диффузии внедренных ионов и смещенных атомов. Диффузия происходит тем интенсивней, чем выше температура. Процесс релаксации дефектов подчиняется законам диффузии. В результате движения вакансий, смещенных междоузельных атомов и взаимодействия этих дефектов происходит их исчезновение.
Образование дефектов и аморфизация поверхностных слоев создают большие проблемы при проведении процессов ионно-ллазменной обработки материалов. Ионное распыление Физическим ионным распылением или просто ионным распылением называют процесс удаление материала с поверхности в результате взаимодействия с ним энергетических ионов. Развитие процесса ионного распыления с увеличением дозы ионной обработки характеризуется тремя этапами: Первый этап – переходный, предравновесный. Он характеризуется постоянным ростом скорости распыления. Происходит удаление поверхностных загрязнений, изменение рельефа поверхности, ее структуры, энергии связи атомов на поверхности и, наконец, установление равновесной концентрации захваченных материалом ионов. Второй этап – установившийся режим процесса ионного распыления. Распыляютя собственно материал и внедренные в него ионы, концентрация которых установилась. Этот этап является основным в процессе распыления. Третий этап характеризует завершение удаление пленки материала. Скорость распыления материала пленки падает. Наблюдается влияние подложки на процесс распыления и его скорость, поскольку свойства подложки влияют на свойства граничного с ней слоя распыляемого материала. В результате проникновения ионов до границы раздела пленка – подложка и смещения атомов происходит перемешивание атомов пленки и подложки. Современные представления о процессе взаимодействия, приводящего к распылению, предполагают, что в результате проникновения иона в материал возникает каскад бинарных упругих столкновений 'смещенных атомов, в которых происходит обмен энергией и импульсом между атомами. Среднее время развития каскада столкновений порядка 2·10-13 с. Масса ионов должна быть достаточно велика, т. е. близка или больше массы атомов материала, чтобы увеличить вероятность смещения атомов в столкновениях, т. е. вероятность возникновения каскада столкновений. Конечным результатом каскада столкновений может стать передача поверхностному атому достаточной энергии и необходимого импульса нужной направленности (наружу из материала) для преодоления сил его связи на поверхности. Если начало каскада находится глубоко от поверхности материала, то поверхностным атомом будет передана энергия, недостаточная для распыления. Таким образом, энергия ионов определяет интенсивность процесса ионного распыления.
Распыление будет происходить, если энергия бомбардирующего иона превышает некоторое пороговое значение . Предполагая, что энергия связи поверхностного атома материала равна энергии сублимации (атомизации), порогувую энергию распыления можно оценить с помощью соотношения: , (2.2) Отношение , называемое коэффициентом аккомодации, характеризует долю энергии бомбардирующего иона, переданную атому материала в упругом столкновении (при коэффициент аккомодации максимален и равен 1). Для характеристики процесса ионного распыления используется параметр S, называемый коэффициентом распыления, а также производный от него параметр – скорость распыления [5,10]. Коэффициент распыления определяется как количество распыленных атомов, приходящихся на один бомбардирующий ион (атом/ион). Для характеристики процесса распыления полимерных соединений типа фоторезистов, имеющих молекулы с очень большим числом атомов, понятие коэффициента распыления теряет смысл, поскольку совершенно неопределенным становится состав продуктов распыления. В этом случае оперируют понятием скорости распыления, характеризующим толщину удаленного слоя материала в единицу времени при заданной мощности ионной обработки. Скорость и коэффициент распыления связаны соотношением: , (2.3) где е – заряд электрона, - плотность материала, j – плотность тока ионов, - молярная масса атомов материала, - число Авогадро. На рис. 1.3а,б приведены зависимости коэффициентов распыления меди и кварца от энергии ионов аргона . В диапазоне энергий, близких к пороговым [].
(а) (б) Рис 2.2. а – зависимость коэффициента распыления меди от энергии ионов аргона; б - зависимость коэффициента распыления кварца от энергии ионов аргона
Физика процесса распыления изучалась многими исследователями [14, 37-40]. Установлено, что эффективность процесса распыления определяется: - зависимостью коэффициента распыления от характеристик бомбардирующих ионов: атомного номера, массы, энергии, направленности движения ионов по отношению к обрабатываемому материалу; от характеристик обрабатываемого материала: атомного номера, массы, относительной плотности, энергии связи атомов, составляющих материал, степени кристалличности материала и состояния его поверхности; - плотности тока бомбардирующих ионов; - влиянием среды: давления и состава остаточных и рабочих газов, наличием различного рода излучений и т. д.
Воспользуйтесь поиском по сайту: ©2015 - 2024 megalektsii.ru Все авторские права принадлежат авторам лекционных материалов. Обратная связь с нами...
|