Статистика носителей заряда в проводящих твердых телах
Стр 1 из 5Следующая ⇒ Калуга, 2009 УДК 537+539.2. ББК 32.852.3 З-17 Настоящее методическое пособие издается в соответствии с учебным планом 7 семестра специальности 210104 «Микроэлектроника и твёрдотельная электроника» Указания рассмотрены и одобрены: Методической комиссией Калужского филиала МГТУ им. Н.Э. Баумана, протокол № от Председатель методической комиссии ______ А.В.Максимов Методической комиссией факультета ЭИУК, протокол № от Председатель методической комиссии _______М.Ю. Адкин Кафедрой "Материаловедение", протокол № от Зав. кафедрой, профессор _____________В.Г. Косушкин Рецензент: к.ф.-м.н, доцент Автор: _____________ к.ф.-м.н, доцент В.С. Зайончковский, Аннотация Данное методическое пособие содержит описание основных положений и формул, необходимых для решения задач по дисциплине «Физика твердого тела». © Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009 г. © Зайончковский В.С. Содержание
Цель методического пособия
Целью данного методического пособия является оказание помощи студентам в решении задач по физике твердого тела. Содержание задач охватывает одиннадцать тем, теория по которым излагается в теоретическом курсе, читаемом в 6-ом и 7-ом семестрах для специальности «Микроэлектроника и твёрдотельная электроника». Эти темы, в основном, описывают поведение однородных твердых тел, не содержащих разного рода границ – границ кристаллов, p-n переходов, изменений кристаллической и магнитной структур твердого тела. Статистика носителей заряда в проводящих твердых телах Статистика носителей заряда в твердых телах строится на основе зонной теории, которая разделяет все кристаллические твердые тела на металлы, полуметаллы, полупроводники, диэлектрики, в соответствии с концентрацией свободных носителей заряда. При большой концентрации носителей заряда распределение носителей заряда по энергии (вероятность заполнения состояний с энергией
где
Здесь
Для металлов с изотропной и параболической энергетической зоной из первой группы (главной подгруппы) таблицы Д.И. Менделеева В модели свободных электронов концентрация электронов связана с функцией распределения электронов по энергиям
Здесь
где
В этой формуле величины В металлах, входящих в длинные периоды таблицы Д.И. Менделеева, возможно перекрытие подзон, наследованных от энергетических уровней с различными значениями главного квантового числа. В этом случае имеет место дробное (в среднем) число, коллективизированных от одного атома, электронов, участвующих в переносе заряда. При этом расчет концентрации свободных электронов является сложным. Если же: · нет перекрытия подзон, с различными значениями главного квантового числа, · зависимость энергии в зоне выражается квадратичной функцией от модуля волнового вектора, · энергия отсчитывается от дна энергетической зоны, · эта зона заполнена носителями заряда, так, что поверхность Ферми не касается границ зоны Бриллюэна, то выражение для концентрации носителей заряда имеет вид:
В этой формуле введены обозначения:
Приведенный уровень Ферми вычисляется по формуле:
В формулах (2-7) и (2-8) величина
Здесь
В соотношение (2-10) входит
Если выполняется двойное неравенство:
то полупроводник можно охарактеризовать как невырожденный. Если необходимо найти концентрацию носителей заряда вблизи потолка энергетической зоны (в валентной зоне), то в этом случае вместо выражения (2-9) используют ему подобное:
Здесь введены новые обозначения: то дырочный полупроводник можно охарактеризовать как невырожденный. Для невырожденных полупроводников справедлив закон действующих масс:
Согласно этому закону произведение концентраций электронов и дырок в невырожденных полупроводниках зависит только от ширины запрещенной зоны и температуры полупроводника. Еще одна форма записи этого закона имеет вид:
где введено обозначение
Величину
Такой вид это соотношение имеет при дополнительном условии, что не существует возбужденных примесных центров, и есть только один уровень энергии у примесного центра.
Воспользуйтесь поиском по сайту: ![]() ©2015 - 2025 megalektsii.ru Все авторские права принадлежат авторам лекционных материалов. Обратная связь с нами...
|