Смещение технологической базы при базировании

Смещение технологической базы при базировании

с

Рис. 19 Образование погрешности базирования при смещении технологической базы

α

а

в1

О

а

О

в

dmin

dmax

Обрабатываемая поверхность  поверхность

ε бА

а1

О1

с

ξ бА

Многие заготовки при обработке базируются на поверхности, являющиеся в одно и то же время и измерительными базами, размеры которых изменяются в пределах заданного допуска в партии заготовок. Это характерно, в

некоторых случаях, при базировании на наружные и внутренние цили ндрические поверхности, используемых на технологических операциях в качестве технологических баз. Образование погрешности базирования происходит за счет изменения положения базовой поверхности заготовки (технологической базы) в пределах её допуска, что приводит к пропорциональному изменению положения измерительной базы и, как следствие, к образованию погрешности базирования получаемого на операции размера. При образовании погрешностей базирования размеров, вызываемых смещением технологических баз, их величина определяется расчетом, с учетом

геометрической формы как самой заготовки, так и опор, на которые она базируется, точности обработки базовой поверхности заготовки, а так же точности изготовления самих опор. Для расчета вычерчивается эскиз базирования заготовки на опоре, устанавливается положение точек контакта базовой поверхности заготовки с поверхностью опор и положение измерительной базы размера обработки. Заготовка вычерчивается в двух положениях – положение, соответствующее базовой поверхности наименьшего размера и положение, соответствующее базовой поверхности максимального размера (в соответствие с величиной допуска). После этого устанавливается взаимосвяь между положениями технологической и измерительной баз и определяется погрешность базирования

На рис. 19 показан пример фрезерования поверхности цилиндрической детали в размер А, установленной на призме. Обрабатываемая заготовка показана в двух положениях, соответствующих размерам d_max  и d_min .

При обработке заготовки наименьшего размера d_min положение технологической базы определяется точками контакта « а» наружной цилиндрической поверхности заготовки с поверхностью призмы. В этом случае, измерительная база размера А располагается вточке « в » этой же наружной цилиндрической поверхности. В процессе обработки получается размер А_max.

После базирования заготовки, имеющей размер наружной цилиндрической поверхности d_max положение наружной цилиндрической поверхности на призме изменилось. Токи её контакта с поверхностями призмы сместились, и заняли положение « а₁ », что в свою очередь привело к изменению положения измерительной базы, которая переместилась в точку « в₁ ». Таким образом, расстояние « вв₁ » определяет погрешность базирования размера «А». Или:

ε бА = вв1 = Аmах - Аmin;

Из анализа рис. 24 размер вв₁ определяется как разность отрезков вО₁ и в₁О₁. Если учесть, что в₁О₁ = d_max/2 = r_max,   а вО = /2 = r_min,   а d_max - d_min = Т_d, то выше приведенное равенство можно записать в виде:

ε _бА = вО1 – вО = r_min+ОО₁ - r_max = ОО₁ - Т_d /2;

асО

а1сО1,

 Для определения ОО₁ анализируют два треугольника:            и

из которого вытекает, что ОО₁ = сО₁ – сО. С учетом угла призмы, заданного конструктивно следует:

Ос = r_min* ; О₁с = r_max* ;    а₁сО₁,

И тогда отрезок ОО₁ определяется:

⇐ Предыдущая234567891011Следующая ⇒

Поделиться:

Воспользуйтесь поиском по сайту: